Roughines characterization of smooth machined surfaceof silicon by optical ellipsometry Vezi publicația: Romanian Journal of Physics Anul publicaţiei: 1995Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 40-2-3; anul 1995 Paginaţia: 297-308 Navigare în nr. revistă: |< < 15 / 26 > >| Realizatori:  BOCA, I. (autor), IOVAN, S. (autor) Descriptori:  fizică