Căutare Avansată

An XPS study of SiGe alloys ion beam oxidation

• Vezi publicația: Revue Roumaine de Chimie
• Anul publicaţiei: 1998
• Referinţă bibliografică pentru nr. revistă: 43-10; anul 1998
• Paginaţia: 913-916
• Navigare în nr. revistă:  |<  <  4 / 14   >  >|

---

• Realizatori:  OSICEANU, Petre (autor)
• Descriptori:  chimie